電子材料電特性參數(shù)測(cè)試儀 

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

電子材料電特性參數(shù)測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，可應(yīng)用于鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器等研究。在±10V的內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可達(dá)1MHz。還可通過(guò)外接的功率放大器模塊將電壓升到50V~50kV

內(nèi)置HuacePro測(cè)試軟件，具有自動(dòng)數(shù)據(jù)顯示、算法分析和實(shí)時(shí)參數(shù)提取功能,操作友好使用便捷，在不改變樣品連接的情況下就可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV和CV測(cè)試等，可選配件也可實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC、電介質(zhì)充放電、介電溫譜、高低溫電阻等測(cè)量功能

測(cè)試功能（可選）

動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)量-DHM

泄漏電流測(cè)量-LM

CV測(cè)量-CVM

疲勞測(cè)量-FM

保持力測(cè)量-RM

印跡測(cè)量-IM

脈沖測(cè)量-PM

靜態(tài)電滯回線測(cè)量-SHM

擊穿電壓測(cè)量-BDM

壓電測(cè)量-PZM

熱釋電測(cè)量-PYM

熱刺激測(cè)量-TSDC

介電溫譜測(cè)量-DTS

高低溫電阻測(cè)量-TIR

充放電測(cè)試-ESD

產(chǎn)品參數(shù)

輸出范圍：±10V（內(nèi)置放大器±200V）

輸出頻率上限：1MHz（±10V），100kHz（±200V）

輸出電流上限：20mA（±10V），100mA（±200V）

輸出：16位任意波形發(fā)生器輸出

準(zhǔn)確性：0.5%或更高

脈沖寬度(PUND)下限：100ns

上升時(shí)間下限：100ns

脈沖寬度(PUND)上限：1s

區(qū)域分辨率上限：52.6mC

電滯回線頻率范圍 ：1mHz ~ 1MHz

模擬輸入通道:高可達(dá)50MS/s，±10V(16位)

測(cè)試電容范圍上限:1nF(與測(cè)試頻率有關(guān))

輸出阻抗:10Ω

輸出：16位任意波形發(fā)生器輸出

可外接高壓放大器 （可外接20kV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4kV，10kV，20kV

應(yīng)用領(lǐng)域

主要應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域，?特別是電子材料電特性參數(shù)的測(cè)量，研究和測(cè)試材料的電性能

可選配件

塊體變溫測(cè)試盒

電極可調(diào)行程上限：不小于3mm，分辨率0.01mm

測(cè)試樣品上限：直徑小于30mm

溫度范圍：RT~250℃

試驗(yàn)電壓上限：±10kV

應(yīng)用：可配合激光干涉儀進(jìn)行應(yīng)變測(cè)量

薄膜變溫探針臺(tái)

溫控范圍：RT~400℃

應(yīng)用：可用于薄膜和厚膜材料的鐵電性能測(cè)試

激光干涉儀

頻率范圍：0~2.5 MHz

激光波長(zhǎng)：1310 nm

位移分辨率：0.01 nm

速度上限：＜4.5 m/s

公司介紹

Beijing Hua Ce Testing Instrument Co., Ltd. is a national high-tech enterprise, abbreviated as Hua Ce Instrument.    It is a company engaged in research and development, production and manufacturing.    The company has a functional materials electrical laboratory and an electrical insulation materials electrical laboratory.